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Actualité RFID : Tests de wafers sans contact chez STMicroelectronics

[Technologie]
[18-12-2011] Tests de wafers sans contact chez STMicroelectronics

A l'issue du projet R&D UTAMCIC (UHF Tag Antenna Magnetically Coupled to Integrated Circuit), STMicroelectronics annoncé être capable de tester ses wafers sans contact. Plus de pointes et de sondes, donc.
Des ondes électromagnétiques sont utilisées pour alimenter les puces et communiquer avec le circuit. STMicroelectronics évite ainsi l'endommagement de certains wafers par les pointes des sondes lors des tests.

Source :

[1] http://www.silicon.fr/premiere-mondiale- (...)

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